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CWDM 产品测试
来源:上海鸿珊光电 | 作者:shhscom | 发布时间: 2017-05-17 | 4091 次浏览 | 分享到:
目前DWDM技术已经广泛应用于长距离高速光通信系统中如国家主干网、海底光缆通信系统上,但DWDM由于技术较复杂、成本高,不适合应用于城域网和接入网中。
目前DWDM技术已经广泛应用于长距离高速光通信系统中如国家主干网、海底光缆通信系统上,但DWDM由于技术较复杂、成本高,不适合应用于城域网和接入网中。  随着越来越多的城域网运营商开始寻求更合理的传输解决方案,CWDM越来越广泛地被业界所接受。和DWDM系统不同,CWDM系统采用的是不带冷却器的分布式反馈(DFB)激光器和宽带光滤波器,因此CWDM系统具有以下优点:功率损耗低、尺寸小和成本低。CWDM系统的投放市场使得它在城域网和接入网中能够替代DWDM系统。  大多数CWDM系统工作在从1470nm到1610nm的范围内,其信道间距为20nm。 目前制作CWDM的技术有薄膜滤光片(Thin Film Filter, TFF)和全光纤耦合器(All Fiber Coupler)等方式。  不管哪一种CWDM器件的制作方式都存在同样一个非常重要的问题:技术指标的测试,这些指标包括插入损耗,通道带宽,隔离度,通带平坦度等重要指标。由于CWDM覆盖的波长范围非常宽(>140nm), 因此测试相对也较复杂。    一.常用测试方法有以下几种:  1. 以白光源作为测试光源,再用光谱仪扫描  优点:白光源的波长覆盖范围很宽。  缺点:白光源的功率密度很小,<-55dBm/nm, 因此隔离度指标测试只能到20dB左右,难以能满足要求。   2. 以1550 nm LED光源作为测试光源,再用光谱仪扫描  优点:LED光源的波长覆盖范围较宽,价格较便宜。  缺点:LED光源的功率密度较小,在-40~-50dBm/nm范围内, 因此隔离度指标测试只能到20~30dB左右,当然如果光谱仪用高灵敏度的扫描方式也可达到30~40dB,但又存在测试效率很低的问题(扫描一个通道大约要5分钟)。   3. 以可调谐激光器作为测试光源,再用光功率计检测  优点:还可测试PDL,回波损耗等指标。 缺点:一般单台可调谐激光器的波长覆盖不了CWDM的要求范围,所以需要2台;另外必须选较高档的可调谐激光器,否则一般的可调谐激光器由于ASE的影响隔离度指标也只能测到30dB左右。  还有测试速度、慢效率低,成本高,测试曲线易受PDL的影响。   4. 以S+C+L宽带光源作为测试光源,再用光谱仪扫描  优点:测试效率高,结果直观。  缺点:成本高(特别是S波段的高功率宽带光源),仪器稀有。   5. 以ASE-C+L宽带光源作为测试光源,再用光谱仪扫描  优点:测试效率高,结果直观,成本适中,是一种最常用的测试方案。  ASE-C+L宽带光源大约覆盖了1520~1620 nm的波长范围,在这个范围内光